SPview 3(s2p文件查看分析工具) v3.6.8官方版

SPview 3(s2p文件查看分析工具)是查看s2p文件的好工具,查看s参数,smith圆图,支持脚本操作等功能，支持Windows XP/Vista/Win7/8/10系统，能来查看SPV/ALB/S1P/MDF/LP/SP/LPD格式文件。

　　SPview是一个用于射频和微波工程的s参数工具集。内置GPIB、LAN、USB和RS232功能，可直接从矢量网络分析仪、频谱分析仪、标量分析仪和示波器中采集数据。它可以生成与所有主要模拟器兼容的s参数文件。内置的图表和数据处理功能，使更快的电路设计，2端口功能图表是特别有用的放大器设计师往往删除几个测量/模拟周期。

　　SPview为较老的VNA提供了更新和更昂贵的模型中可用的设施，此外，它还可以捕获n端口数据，即3,4。99端口数据可以只使用2端口或T/R分析器捕获，并保存为s参数文件。

　　Spview支持国家仪器NI488, Agilent SICL库以及来自许多供应商的VISA。也支持RS USB智能仪器。

　　不需要第三方驱动程序/库从配备LAN端口的设备中捕获数据。

　　SPview还可以从Focus和Maury文件格式导入等高线地图加载-拉数据。

　　可选的工具集SI包支持一系列信号完整性功能和转换，包括混合模式差分和通用模式转换以及眼图绘图仪。

　　SPview 3现在包括一个完整的多端口线性模拟器完成与可视化原理图编辑器。数据文件可以拖放到电路图上，并连接到电阻、电容、电感和传输线等其他元件上。端口可以更改为任何任意的实际阻抗，原理图编辑器还包括一个NEG2元素，允许s参数数据在一个端口上逐端口地反嵌入。

　　该电路图配有完整的测量套件，所有的仿真都是全自动的，无需设置特殊的仿真设置。

　　SPview现在提供了一套数学特性，将任意方程画成扫掠变量的函数，方程可以处理复杂数据和标量数据。方程作为变量和/或现有跟踪数据的函数产生新的跟踪。

　　新的poynomial趋势线特性从现有的跟踪数据创建并绘制方程。

　　统计分析功能与特殊工具相结合，以搜索和组合磁盘文件夹中的数据。现在可以组合生产运行的历史数据，并应用最小/最大值、平均值和标准偏差。

　　SPview是完全可编程的通过ActiveX脚本系统，Visual Basic和Jscript是完全集成。用户还可以通过综合编程API编程远程控制接口。

　　从矢量、频谱、标量分析仪和示波器中获取数据。

　　实时，单镜头和屏幕复制模式。

　　使用多种图表类型显示数据，包括Zsmith、Ysmith、Polar和Log星等。

　　可视化数据编辑、合并和分析。

　　线性模拟器与原理图输入，拖放数据文件到原理图和连接到组件。

　　使用2端口NEG2反嵌入元素。

　　使用轮廓映射导入和处理加载-拉数据文件。

　　以混合模微分形式处理和绘制s参数数据。

　　信号完整性应用的眼图图。

　　绘制任意方程作为现有数据文件和/或独立变量的函数。

　　统计分析函数的范围很广，包括最小/最大均值和标准差。

　　MDIF (mdf)文件支持，打开，绘图和使用MDIF库的示意图。

　　用于从单个试金石数据创建MDIF库文件的MDIF构建器工具。

　　趋势线分析。

　　用户定义的界限线与大于，小于或在范围目标。

　　综合s参数函数分析图集。

　　用于连接器不连续消除的时域门控。

　　后处理模式包括反射面调整和稳定圆。

　　COM连接到其他支持COM的软件和模拟器。

　　内置可编程的VBscript和JAVA脚本语言。

　　语法突出显示的脚本编辑器。

　　将捕获的数据保存为'。用于输入模拟器的SNP s参数文件。

　　使用带有数字或图形条目的数据簿中的数据创建新文件。

　　使用鼠标实时平移和缩放所有图表类型。

　　通用标记类型-跟踪，数据，三角洲和垂直标记。

　　在U+JV和R+JX中使用精确的数据点值读出状态。

　　2端口功能图，包括稳定性(k因子，Det,b1)和功率增益(Gmsg, Gamax, Gu)。

　　1端口转换图，包括VSWR和TDR(时域反射测量)

　　以.csv格式导出数据，以便直接导入MS Excel。

　　稳定圆模式与连续变频扫频控制。

　　以MA、DB或RI格式加载、保存和转换2端口Y、Z和H参数文件。

　　将数据重新规格化到任何阻抗。

　　Windows元文件剪贴板复制，用于使用文字处理器的完整分辨率文档。

　　多级撤销/重做对图表和原理图的操作。

　　通过简单地抓取数据点并在屏幕上拖动来编辑屏幕上的所有跟踪数据。

　　插入和删除数据点在屏幕上与自动插值。

　　抓取和拖动整个曲线。